Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.02.2020
ASTM E1855-20
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Norma a Redline - Online zabezpečené PDF, Tištěné, Tisk + redline
od 1 524.30 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM E1855-20
Datum vydání: 01.02.2020
Stran: 10
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:displacement damage, neutron damage, radiation hardness, silicon transistors, spectrum sensors,, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
