Neplatná | Vydána: 01.04.2010

ASTM E986-04(2010) Neplatná

Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E986-04(2010)

Datum vydání: 01.04.2010

Stran: 3

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST-SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform, Electron microscopy, Scanning electron microscope (SEM), ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices), 37.020 (Optical equipment)

Populární vydavatelé

celý katalog