Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 10.06.2000
ASTM F1192-00 Neplatná
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
od 86.90 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM F1192-00
Datum vydání: 10.06.2000
Stran: 11
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
