Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Practices for Determination of the Concentration of Impurities in Single Crystal Semiconductor Materials by Infrared Absorption Spectroscopy (Withdrawn 1993)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Označení: ASTM F120-88
Stran: 7
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma