Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů. (Text normy není součástí výtisku). )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS EN 60749-7:2011
Datum vydání: 30.09.2011
Stran: 16
Země: Britská technická norma