Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Constant current electromigration test.
(Polovodičové součástky - Elektromigrační zkouška pomocí konstantního proudu.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS EN 62415:2010
Datum vydání: 31.07.2010
Stran: 14
Země: Britská technická norma