Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors.
(Polovodičové součástky - Zkoušky horkých nosičů u MOS tranzistorů.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: BS EN 62416:2010
Datum vydání: 31.07.2010
Stran: 14
Země: Britská technická norma