Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
(Polovodičové součástky - Zkoušky pohyblivých iontů pro tranzistory řízené polem (MOSFET).)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: BS EN 62417:2010
Datum vydání: 30.06.2010
Stran: 12
Země: Britská technická norma