Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS EN IEC 60749-23:2026-TC
Datum vydání: 12.02.2026
Stran: 34
Země: Britská technická norma