Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS EN IEC 60749-24:2026
Datum vydání: 21.01.2026
Stran: 16
Země: Britská technická norma