Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
(Měření vodivosti kovových tenkých vrstev při mikrovlnných a milimetrových vlnových frekvencích - Metoda vyváženého kruhového diskového rezonátoru.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS EN IEC 63616:2026
Datum vydání: 23.01.2026
Stran: 18
Země: Britská technická norma