Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 21.07.2020
BS IEC 62880-1:2017
Semiconductor devices. Stress migration test standard. Copper stress migration test standard.
(Polovodičové součástky - Normalizovaná zkouška migrace vyvolaná namáháním - Část 1: Normalizovaná zkouška namáhání mědi. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 269.50 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS IEC 62880-1:2017
Datum vydání: 21.07.2020
Stran: 28
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 580 85808 6 Status: DefinitivePopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
