Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Printed electronics. Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS IEC 62899-503-3:2021
Datum vydání: 08.09.2021
Stran: 16
Země: Britská technická norma