Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment. Arbitrary and random mechanical vibrations.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS IEC 63150-1:2019
Datum vydání: 13.04.2023
Stran: 40
Země: Britská technická norma