Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS ISO 14606:2022-TC
Datum vydání: 17.02.2023
Stran: 60
Země: Britská technická norma