Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 31.01.2014
BS ISO 17470:2014
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 218.30 USD
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS ISO 17470:2014
Datum vydání: 31.01.2014
Stran: 22
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision UnderwayPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
