Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 18.12.2019
BS ISO 21466:2019
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Method for evaluating critical dimensions by CDSEM.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 8 798.70 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS ISO 21466:2019
Datum vydání: 18.12.2019
Stran: 56
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 580 94840 4 Status: ConfirmedPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
