Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS ISO 23830:2008
Datum vydání: 31.12.2008
Stran: 24
Země: Britská technická norma