Aktivní norma | Vydána: 01.07.2021

ČSN EN IEC 60904-1-ed.3

Fotovoltaické součástky - Část 1: Měření fotovoltaických voltampérových charakteristik. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

Dostupné jazyky: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana)

Dostupné provedení: Tištěné

od 434.00 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ČSN EN IEC 60904-1-ed.3

Datum vydání: 01.07.2021

Stran: 44

Země: Česká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Tato část IEC 60904 popisuje postupy pro měření charakteristik proudového napětí (křivky I-V) fotovoltaických (PV) zařízení v přirozeném nebo simulovaném slunečním světle. Tyto postupy jsou použitelné pro jeden PV solární článek, podsestavu FV solárních článků nebo PV modul. Jsou použitelné pro jednofázové monofaciální PV zařízení. U ostatních typů zařízení se odkazuje na příslušné dokumenty, zejména u zařízení s více spoji podle IEC 60904-1-1 a u bifaciálních zařízení podle IEC TS 60904-1-2. Dále jsou poskytovány informativní přílohy týkající se měření plochy PV zařízení (příloha A), FV zařízení s kapacitou (příloha B), měření charakteristik proudového napětí-napětí (tmavé křivky IV) (příloha C) a účinků prostorové nerovnoměrnosti ozáření (Příloha D).Metody uvedené v tomto dokumentu lze také použít jako vodítko pro vytváření I-V křivek PV polí. Pro měření na místě viz IEC 61829. Tento dokument je použitelný pro nekoncentrující se fotovoltaické zařízení pro použití v pozemním prostředí, s odkazem na (obvykle, ale ne výlučně) globální referenční spektrální ozáření AM1.5 definované v IEC 60904-3. Může to být také použitelné na fotovoltaické zařízení pro použití při koncentrovaném ozáření, pokud aplikace používá přímé sluneční světlo a místo toho se odkazuje na přímou referenční spektrální ozáření AM1.5d v IEC 60904-3. Účelem tohoto dokumentu je stanovit základní požadavky na měření křivek I-V PV zařízení, definovat postupy pro různé používané měřicí techniky a ukázat postupy pro minimalizaci nejistoty měření. Je použitelný pro měření I-V křivek obecně
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.