Aktivní norma | Vydána: 01.06.2026

ČSN EN IEC 63616

Měření vodivosti kovových tenkých vrstev při mikrovlnných a milimetrových vlnových frekvencích - Metoda vyváženého kruhového diskového rezonátoru (Norma k přímému použití jako ČSN).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Tištěné

od 9.30 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ČSN EN IEC 63616

Datum vydání: 01.06.2026

Stran: 20

Země: Česká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

This document relates to a conductivity measurement method of thin metal films at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the conductivity of a metal foil used for adhering to a substrate or the interfacial conductivity of a metal layer formed on a dielectric substrate. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband conductivity measurements by using a single resonator.
In comparison with the conventional method described in IEC 61788 7 [1] , this method has the following characteristics:
- the value of the conductivity of a metal foil can be measured accurately and non destructively;
- the value of the interfacial conductivity of a metal layer on a dielectric substrate can be measured accurately and non-destructively;
- this method presents broadband measurements by using higher-order modes by one resonator;
- this method is applicable for the measurements under the following conditions:
- frequency: 10 GHz 170 GHz;
- conductivity: 105 S/m 108 S/m
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.