Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Nejistoty měření v metrologických aplikacích - Opakovaná měření a hierarchické experimenty.
Dostupné jazyky: Česky
Dostupné provedení: Tištěné
Označení: ČSN P ISO/TS 21749
Datum vydání: 01.01.2007
Stran: 40
Země: Česká technická norma