Neplatná | Vydána: 01.02.2018

DIN EN 60749-28:2018-02 Neplatná

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - Úroveň součástky. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

od 126.90 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: DIN EN 60749-28:2018-02

Datum vydání: 01.02.2018

Stran: 50

Poznámka: Neplatná

Země: Německá technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.

Populární vydavatelé

celý katalog