Aktivní norma | Vydána: 01.03.2007

DIN EN 60749-35:2007-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické součástky zapouzdřené v plastu..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 98.30 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: DIN EN 60749-35:2007-03

Datum vydání: 01.03.2007

Stran: 21

Země: Německá technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.

Populární vydavatelé

celý katalog