Aktivní norma | Vydána: 01.04.2017

DIN EN 60749-44:2017-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 44: Zkušební metoda efektu samostatné události (SEE) pomocí ozáření neutronovým svazkem pro polovodičové součástky..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 122.30 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: DIN EN 60749-44:2017-04

Datum vydání: 01.04.2017

Stran: 22

Země: Německá technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.

Populární vydavatelé

celý katalog