Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.01.2007
DIN EN 62373:2007-01
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
(Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 1 696.00 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: DIN EN 62373:2007-01
Datum vydání: 01.01.2007
Stran: 14
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
