Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.12.2010
DIN EN 62415:2010-12
Semiconductor devices - Constant current electromigration test.
(Polovodičové součástky - Elektromigrační zkouška pomocí konstantního proudu.)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 89.50 USD
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: DIN EN 62415:2010-12
Datum vydání: 01.12.2010
Stran: 12
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration.Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
