GB/T 32495-2016 img
Aktivní norma | Vydána: 24.02.2016

GB/T 32495-2016

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 352.80 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: GB/T 32495-2016

Datum vydání: 24.02.2016

Stran: 0

Země: Čínská technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.