Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Determination of carbon and oxygen content in single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: GB/T 35306-2023
Datum vydání: 06.08.2023
Stran: 0
Země: Čínská technická norma