Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for thickness of silicon carbide epitaxial layer—Infrared reflectance method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: GB/T 42905-2023
Datum vydání: 06.08.2023
Stran: 0
Země: Čínská technická norma