Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metricZDD
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: GB/T 43894.1-2024
Datum vydání: 25.04.2024
Stran: 0
Země: Čínská technická norma