GB/T 4937.41-2026 img
Aktivní norma | Vydána: 27.02.2026

GB/T 4937.41-2026

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41Test method for reliability of non-volatile memory devices

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 400.20 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: GB/T 4937.41-2026

Datum vydání: 27.02.2026

Stran: 0

Země: Čínská technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.