Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: GB/T 6624-2009
Datum vydání: 30.10.2009
Stran: 0
Země: Čínská technická norma