Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination
Dostupné jazyky: Rusky, Anglicky a rusky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: GOST 26239.7-84
Datum vydání: 01.01.1986
Stran: 19
Země: Ruská technická norma