IEC 62276-ed.4.0

Podrobné informace

Označení: IEC 62276-ed.4.0

Datum vydání: 07.03.2025

Stran: 82

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

IEC 62276:2025 applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) The terms and definitions, the technical requirements, sampling frequency, test methods and measurement of transmittance, lightness, colour difference for LN and LT have been added in order to meet the needs of industry development; b) The term “inclusion” (mentioned in 4.13 and 6.10) and its definition have been added because there was no definition for it in Clause 3; c) The specification of LTV and PLTV, and the corresponding description of sampling frequency for LN and LT have been added, because they are the key performance parameters for the wafers; d) The tolerance of Curie temperature specification for LN and LT have been added in order to meet the development requirements of the industry; e) Measurement of thickness, TV5, TTV, LTV and PLTV have been completed, including measurement principle and method of thickness, TV5, TTV, LTV and PLTV. LIEC 62276:2025 s’applique a la fabrication de tranches monocristallines de quartz synthetique, de niobate de lithium (LN), de tantalate de lithium (LT), de tetraborate de lithium (LBO) et de silicate de gallium et de lanthane (LGS), destinees a etre utilisees comme substrats dans la fabrication de resonateurs et de filtres a ondes acoustiques de surface (OAS). Cette edition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport a l’edition precedente: a) les termes et definitions, les exigences techniques, la frequence d’echantillonnage, les methodes dessai et la mesure de la transmission, de la clarte et de la difference de couleur pour le LN et le LT ont ete ajoutes, afin de satisfaire aux besoins de developpement industriel; b) le terme « inclusion » mentionne en 4.13 et 6.10 et sa definition ont ete ajoutes a lArticle 3, dans la mesure ou ils netait pas suffisamment defini; c) la specification de la LTV et du PLTV, et la description correspondante de la frequence dechantillonnage pour le LN et le LT ont ete ajoutees, dans la mesure ou elles correspondent aux parametres de performances cles pour les tranches; d) la tolerance de la specification relative a la temperature de Curie pour le LN et le LT a ete ajoutee afin de satisfaire aux exigences de developpement de lindustrie; e) la mesure de lepaisseur, de la TV5, de la TTV, de la LTV et du PLTV a ete realisee, y compris le principe et la methode de mesure de lepaisseur, de la TV5, de la TTV, de la LTV et du PLTV.