Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
Označení: IEEE 1149.7-2009
Datum vydání: 10.02.2010
Stran: 0
Poznámka: Neplatná
Země: Mezinárodní technická norma