Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: IEEE 1505.1-2019
Datum vydání: 20.08.2019
Stran: 158
Země: Mezinárodní technická norma