Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for Testing Faulted Circuit Indicators
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: IEEE 495-2025
Datum vydání: 27.02.2026
Stran: 26
Země: Mezinárodní technická norma