Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 22.07.2013
JIS K0189:2013
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 63 193.00 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS K0189:2013
Datum vydání: 22.07.2013
Stran: 18
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
