Aktivní norma | Vydána: 15.08.2009

ÖNORM EN 1071-10

Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 10: Bestimmung der Schichtdicke mittels Querschliff

Dostupné jazyky: Anglicky, Německy

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

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Podrobné informace

Označení: ÖNORM EN 1071-10

Datum vydání: 15.08.2009

Stran: 15

Země: Rakouská technická norma

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Anotace

Dieses Dokument legt ein Messverfahren für die Schichtdicke keramischer Beschichtungen fest, bei dem ein metallographisch angefertigter Querschliff der Beschichtigung mit einem kalibrierten Licht- oder Rasterelektronenmikroskop untersucht wird. Es lehnt sich eng an EN ISO 9220 [8] an, jedoch wurden alle erforderlichen Anpassungen und Aktualisierungen vorgenommen, um keramischen Beschichtungen und der derzeitig besten Praxis zu entsprechen.

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