ÖNORM EN 17200

Podrobné informace

Označení: ÖNORM EN 17200

Datum vydání: 01.05.2024

Stran: 35

Země: Rakouská technická norma

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Anotace

Dieses Dokument legt Analyseverfahren für die Bestimmung von Haupt-, Neben- und Spurenelementen in Eluaten und in Königswasser- und Salpetersäureaufschlusslösungen von Bauprodukten durch Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS) fest. Es bezieht sich auf die folgenden 67 Elemente: Aluminium (Al), Antimon (Sb), Arsen (As), Barium (Ba), Beryllium (Be), Bismut (Bi), Blei (Pb), Bor (B), Cadmium (Cd), Calcium (Ca), Cäsium (Cs), Cer (Ce), Chrom (Cr), Cobalt (Co), Dysprosium (Dy), Eisen (Fe), Erbium (Er), Europium (Eu), Gadolinium (Gd), Gallium (Ga), Germanium (Ge), Gold (Au), Hafnium (Hf), Holmium (Ho), Indium (In), Iridium (Ir), Kalium (K), Kupfer (Cu), Lanthan (La), Lithium (Li), Lutetium (Lu), Magnesium (Mg), Mangan (Mn), Molybdän (Mo), Natrium (Na), Neodym (Nd), Nickel (Ni), Palladium (Pd), Phosphor (P), Platin (Pt), Praseodym (Pr), Quecksilber (Hg), Rhenium (Re), Rhodium (Rh), Rubidium (Rb), Ruthenium (Ru), Samarium (Sm), Scandium (Sc), Schwefel (S), Selen (Se), Silber (Ag), Silicium (Si), Strontium (Sr), Tellur (Te), Terbium (Tb), Thallium (Tl), Thorium (Th), Thulium (Tm), Titan (Ti), Uran (U), Vanadium (V), Wolfram (W), Ytterbium (Yb), Yttrium (Y), Zink (Zn), Zinn (Sn) und Zirconium (Zr). Der Arbeitsbereich hängt von der Matrix und den zu erwartenden Interferenzen ab. Die Nachweisgrenze (MDL) wird höher ausfallen, wenn bei der Bestimmung Interferenzen möglich sind oder Memoryeffekte auftreten. Die in diesem Dokument beschriebenen Verfahren sind für Bauprodukte geeignet und sind für die in Anhang A (informativ) aufgeführten Produkttypen validiert.