Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Tištěné
Označení: STN EN 62373
Datum vydání: 01.05.2007
Stran: 20
Země: Slovenská technická norma