Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Polovodičové súčiastky. Skúška pohyblivých iónov v poľom riadených tranzistoroch s hradlom izolovaným oxidom kovu (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Tištěné
Označení: STN EN 62417
Datum vydání: 01.10.2010
Stran: 10
Země: Slovenská technická norma