Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkoušky horkých nosičů u MOS tranzistorů.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: UNE-EN 62416:2010
Datum vydání: 01.09.2010
Stran: 13
Země: Španělská technická norma