Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2022.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en julio de 2022.))
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: UNE-EN IEC 60749-10:2022
Datum vydání: 01.07.2022
Stran: 20
Země: Španělská technická norma