Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.11.2020
UNE-EN IEC 60749-20:2020
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los dispositivos de montaje superficial (SMD) encapsulados en plástico al efecto combinado de humedad y de calor de soldadura. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en noviembre de 2020.))
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 1 942.50 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: UNE-EN IEC 60749-20:2020
Datum vydání: 01.11.2020
Stran: 36
Země: Španělská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
