Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.10.2020
UNE-EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2020.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 41: Standardní metody zkoušení spolehlivosti paměťových součástek nezávislých na napájení.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 82.50 USD
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: UNE-EN IEC 60749-41:2020
Datum vydání: 01.10.2020
Stran: 29
Země: Španělská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
