Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 01.03.2008
VDI/VDE 2655Blatt1.1 Neplatná
Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement.
Dostupné jazyky: Anglicky a německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 3 284.00 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: VDI/VDE 2655Blatt1.1
Datum vydání: 01.03.2008
Stran: 39
Poznámka: Neplatná
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung.Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
