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GB - Chinesische nationale Normen
Seite 2438
GB/T 29506-2013 (09.05.2013)
300mm polished monocrystalline silicon wafers
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GB/T 29507-2013 (09.05.2013)
Test method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning
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GB/T 29508-2013 (09.05.2013)
300mm monocrystalline silicon as cut slices and grinded slices
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GB/T 29509.1-2025 (30.06.2025)
Methods for chemical analysis of gold-loaded carbon—Part 1: Determination of gold and silver contents
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GB/T 29509.2-2013 (09.05.2013)
Methods for chemical analysis of gold-loaded carbon - Part 2Determination of silver content - Flame atomic absorption spectrometry
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GB/T 2951.11-2008 (26.06.2008)
Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 11Methods for general application - Measurement of thickness and overall dimensions - Tests for determining the mechanical properties
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GB/T 2951.12-2008 (26.06.2008)
Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 12:Methods for general application - Thermal ageing methods
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GB/T 2951.13-2008 (26.06.2008)
Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 13:Methods for general application - Measurement for determining the density - Water absorption tests - Shrinkage test
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GB/T 2951.14-2008 (26.06.2008)
Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 14:Methods for general application - Test at low temperature
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GB/T 2951.21-2008 (26.06.2008)
Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 21:Methods specific to elastomeric compounds - Ozone resistance, hot set and mineral oil immersion tests
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