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Test method for instrumental neutron activation analysis (INAA) of silicon
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Test method for thickness and fltaness of monocrystalline silicon carbide wafers
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Specification for order entry format of silicon wafers
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Assembly tools for screws and nuts—Dimensions of machine-operated “impact” square drive sockets
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Test method for warp and bow of silicon wafers—Automated non-contact scanning method
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Test method for measuring oxygen, carbon, boron and phosphorus in solar silicon wafers and feedstock by secondary ion mass spectrometry
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Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy
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Test method for vapor attack on refractories for furnace superstructures
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Hot-rolled steel H piles
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Methods of determination and calculation of heat balance for hot blast stove in blast furnace
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