DIN - Deutsche nationale Normen

VDE 0687-512-23-2. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 23-2: Screening and filtering tests - Test 23b: Suppression characteristics of integral filters.
(VDE 0687-512-23-2. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-2: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23b: Einfügungsdämpfung von integrierten Filtern.)

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VDE 0687-512-23-3. Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 23-3: Screening and filtering tests - Test 23c: Shielding effectiveness of connectors and accessories - Line injection method.
(VDE 0687-512-23-3. Steckverbinder für elektrische und elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-3: Schirm- und Filterprüfungen - Prüfung 23c: Schirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör - Paralleldrahtverfahren.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 23-4: Screening and filtering tests; Test 23d: Transmission line reflections in the time domain.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-4: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung; Prüfung 23d: Reflexion in Übertragungsstrecken im Zeitbereich.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 23-7: Screening and filtering tests - Test 23g: Effective transfer impedance of connectors.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-7: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23g: Effektive Transferimpedanz von Steckverbindern.)

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VDE 0687-512-24-1. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 24-1: Magnetic interference tests - Test 24a: Residual magnetism.
(VDE 0687-512-24-1. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 24-1: Prüfungen im magnetischen Störfeld - Prüfung 24a: Restmagnetismus.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-1: Test 25a: Crosstalk ratio.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss).
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung).)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-4: Test 25d: Propagation delay.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-5: Test 25e - Return loss.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung.)

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