DIN - Deutsche nationale Normen

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-1: Test 25a: Crosstalk ratio.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss).
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung).)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-4: Test 25d: Propagation delay.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-5: Test 25e - Return loss.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-7: Test 25g - Impedance, reflection coefficient and standing voltage wave ratio (VSWR).
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-7: Prüfung 25g - Impedanz, Reflexionskoeffizient und Spannungsstehwellenverhältnis.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-9: Signal integrity tests - Test 25i: Alien crosstalk.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-9: Signalintegritätsprüfungen - Prüfung 25i: Externes Nebensprechen (Alien Crosstalk).)

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VDE 0687-512-26-100. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g.
(VDE 0687-512-26-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 26-100: Messaufbau, Prüf- und Referenzanordnung und Messverfahren für Steckverbinder nach IEC 60603-7 - Prüfungen 26a bis 26g.)

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VDE 0687-512-27-100. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 27-100: Signal integrity tests up to 500 MHz on IEC 60603-7 series connectors - Tests 27a to 27g.
(VDE 0687-512-27-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 27-100: Signalintegritätsprüfungen bis 500 MHz an Steckverbindern der Reihe IEC 60603-7 - Prüfungen 27a bis 27g.)

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